電磁弁診断装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-021163
公開番号（公開出願番号）：特開平11-218256
出願日： 1998年02月02日
公開日（公表日）： 1999年08月10日
要約：

【要約】【課題】電磁弁のソレノイド部に生じたショート故障が確実に検出できるようにする。【解決手段】電磁弁12のソレノイド部12sへの通電をスイッチング制御する電界効果トランジスタQfを診断パルスにより一定時間に亙って導通させ、診断パルスの消滅に合わせてソレノイド部12sに発生する逆起電圧Vxをしきい値判別し、ソレノイド部12sのショート故障の有無を判定する。スイッチング素子の種類によらない電磁弁12の診断が可能であり、ソレノイド部12sに対し必要以上に通電しないで済む。

請求項（抜粋）：

スイッチング素子によりソレノイド部への通電を制御される電磁弁と、前記スイッチング素子に診断パルスを供給して導通させ、該診断パルスの消滅時点で前記ソレノイド部に発生する逆起電圧をしきい値判別し、予め設定した基準電圧以上の逆起電圧が発生しない場合は、前記ソレノイド部にショート故障が発生していると判定するショート故障検出手段とを具備することを特徴とする電磁弁診断装置。

IPC (2件)：

F16K 31/06 320 , H01F 7/18

FI (2件)：

F16K 31/06 320 A , H01F 7/18 K

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