特許
J-GLOBAL ID：200903058482962380
追記形光デイスクの最適記録パワ-検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
古澤 俊明 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-334480
公開番号（公開出願番号）：特開平5-144004
出願日： 1991年11月25日
公開日（公表日）： 1993年06月11日
要約：
【要約】【目的】光ディスク上の傷や埃などによる検出ミスを減少させ、かつ誤ったパワ-で記録するおそれを減少させること。【構成】テストエリア16内の単位の追記期間であるN+1番目のエリアを領域a、bにほぼ2等分する。第1工程で検出した追記回数情報Nをもとにテストエリア16内のN+1番目の領域aにテスト信号を記録して再生し、最適記録パワ-Poaを検出する第2工程と、このPoaを含むテスト信号を領域bに記録して再生し最適記録パワ-Pobを検出する第3工程とを具備しているので、第3工程においてテスト信号の1レベルの記録期間を従来より長く(例えば2フレ-ム)することができる。しかも、第2工程でPoaを検出できなかったときに第2工程とは異なる複数段階レベルのテスト信号を上述の領域bに記録して再生しPobを検出するので、最適記録パワ-の検出ミスをなくすことができる。
請求項（抜粋）：
光ディスクのアドレス情報が記録されたトラックに、スタ-ト時間情報が記録されたリ-ドインエリアと、追記の回数情報を記録するためのエリアが単位の追記期間毎に区分して設定されたカウントエリアと、パワ-レベルを複数段階に切り換えたテスト信号を記録するためのエリアが単位の追記期間毎にほぼ2等分して設定されたテストエリアとを設け、前記リ-ドインエリアのスタ-ト時間情報をもとにして前記カウントエリアをアクセスし、その追記回数情報によって既に何回追記されているかを検出する第1工程と、前記第1工程で検出した情報をもとにして前記テストエリア内の対応する2つのエリアの一方に前記テスト信号を記録して再生し、この再生信号と基準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ-を検出する第2工程と、この第2工程で最適記録パワ-を検出できたときにその検出レベルを含む複数段階レベルのテスト信号を前記テストエリア内の対応する2つのエリアの他方に記録して再生し、その再生信号と基準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ-を検出する第3工程と、前記第2工程で最適記録パワ-を検出できなかったときに前記第2工程のテスト信号のレベルとは異なる複数段階レベルのテスト信号を前記テストエリア内の対応する2つのエリアの他方に記録して再生し、その再生信号と基準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ-を検出する第4工程と、前記第3または第4工程で検出した最適記録パワ-情報を前記カウントエリアの対応するエリアに記録する第5工程とからなる追記形光ディスクの最適記録パワ-検出方法。
IPC (2件)：
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