特許
J-GLOBAL ID：200903058487155245

位置姿勢計測方法

発明者：
佐藤 清秀

佐藤 清秀 について

, 
内山 晋二

内山 晋二 について

, 
穴吹 まほろ

穴吹 まほろ について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (4件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-323101
公開番号（公開出願番号）：特開2004-233334
出願日： 2003年09月16日
公開日（公表日）： 2004年08月19日
要約：
【課題】 対象物体の位置姿勢計測を、位置及び姿勢の何れについても高い精度で実現すること。【解決手段】 第1の撮像手段が撮像する第1の画像上の現実空間に配置された第1の指標の画像座標と、従前に算出された位置姿勢パラメータに従った位置姿勢の第1の撮像手段と第1の指標との位置姿勢関係に応じて第1の画像上に位置すると推定される第1の指標の推定画像座標との第1の誤差座標を求める。一方、第1の撮像手段を含む第2の画像上の第1の撮像手段に配置された第2の指標の画像座標と、上記位置姿勢パラメータに従った位置姿勢の第1の撮像手段と第2の指標との位置姿勢関係に応じて第2の画像上に位置すると推定される第2の指標の推定画像座標との第2の誤差座標を求め、第1、2の誤差座標を用いて上記位置姿勢パラメータを補正する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
対象物体の位置及び姿勢を算出する位置姿勢計測方法であって、 前記対象物体に装着した主観視点撮像手段によって情景を撮像する主観視点撮像工程と、 前記対象物体を客観視点撮像手段によって撮像する客観視点撮像工程と、 前記主観視点撮像工程で取得された第1の画像から、前記情景中に配置された第1の指標の画像座標に関わる特徴量を検出する第1の検出工程と、 前記客観視点撮像工程で取得された第2の画像から、前記対象物体上または前記主観視点撮像手段上に配置された第2の指標の画像座標に関わる特徴量を検出する第2の検出工程と、 前記第1の検出工程で検出した前記第1の指標の画像座標に関わる特徴量と、前記第2の検出工程で検出した前記第2の指標の画像座標に関わる特徴量とを用いて、前記対象物体の位置及び姿勢を算出する位置姿勢算出工程と を備えることを特徴とする位置姿勢計測方法。
IPC (4件)：
G01B11/00 ,  G01B11/26 ,  G06T1/00 ,  G06T7/60
FI (5件)：
G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G06T1/00 315 ,  G06T7/60 150B ,  G06T7/60 150P
Fターム (24件)：
2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065DD00 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ13 ,  2F065RR06 ,  2F065UU05 ,  5B057AA20 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CD14 ,  5B057CH01 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC08 ,  5L096AA09 ,  5L096BA20 ,  5L096CA05 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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