特許
J-GLOBAL ID：200903058548369910
積分型センシング装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-017421
公開番号（公開出願番号）：特開平6-229772
出願日： 1993年02月04日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】【構成】 本装置は、第1の手段1と、第2の手段2と、第1、第2の手段の出力差を演算する出力差演算手段3と、その出力差の変化率を演算し、その変化率により第1の手段1の誤差を推定する誤差推定手段5とを有する。第1の手段1は、微分量計測手段6と、誤差推定手段5の誤差推定量をもとに誤差補正する誤差補正手段7と、信号を時間積分する時間積分手段8とを有する。上記において、物理量9の誤差は積分により増大する。そこで、第2の手段2を基準にして差を出力差演算手段3でとり、その変化率を誤差推定手段5で算出することにより誤差推定し、誤差補正手段7で計測微分量の誤差を補正する。【効果】 計測微分量に含まれる誤差を補正することが可能となり、積分によって本来累積するはずであった誤差を小さくすることができ、信頼性が向上する。
請求項（抜粋）：
センシング対象である物理量を得る第1の手段を有し、前記第1の手段は、前記物理量の微分量を計測する計測手段と、前記微分量を積分する積分手段とを有する積分型センシング装置において、前記物理量を得る第2の手段と、前記第1及び第2の手段により得られた各々の物理量の差の変化率から前記第1の手段における計測微分量の誤差を推定する誤差推定手段と、前記誤差に基づき前記第1の手段における計測微分量を補正する手段とを有することを特徴とする積分型センシング装置。
IPC (5件)：
G01C 21/00
, G01C 17/38
, G01C 21/20
, G01S 5/14
, G08G 1/0969
