特許
J-GLOBAL ID:200903058561510770
電解質膜評価装置および評価方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
田渕 経雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-064195
公開番号(公開出願番号):特開2003-264001
出願日: 2002年03月08日
公開日(公表日): 2003年09月19日
要約:
【要約】【課題】 電解質膜の吸水特性とプロトン伝導度との両方を、同時に測定できる電解質膜の評価装置および評価方法の提供。【解決手段】 (1)測定対象31に対して流体33、34を供給する流体供給手段32と、測定対象の流体吸着量を測定する吸着量測定手段51と、測定対象のプロトン伝導度を測定する伝導度測定手段52と、を有する電解質膜評価装置30。(2)測定対象が電解質膜である。(3)流体が水蒸気である。(4)測定条件を変更する測定条件変更手段33、34、59を備えている。(5)同条件下に配置された1以上の電解質膜に対して、流体吸着量を測定する手段とプロトン伝導度を測定する伝導度測定手段とを有する。(6)上記装置を用いた電解質膜の評価方法。
請求項(抜粋):
測定対象に対して流体を供給する流体供給手段と、測定対象の流体吸着量を測定する吸着量測定手段と、測定対象のプロトン伝導度を測定する伝導度測定手段と、を有する電解質膜評価装置。
IPC (5件):
H01M 8/04
, G01N 5/02
, G01N 27/04
, H01M 8/02
, H01M 8/10
FI (5件):
H01M 8/04 Z
, G01N 5/02 Z
, G01N 27/04 Z
, H01M 8/02 P
, H01M 8/10
Fターム (7件):
2G060AA08
, 2G060AA20
, 2G060AE40
, 2G060AF08
, 5H026AA06
, 5H026CX05
, 5H027AA06
引用特許:
前のページに戻る