内視鏡装置

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊藤進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-183791
公開番号（公開出願番号）：特開2002-136478
出願日： 2001年06月18日
公開日（公表日）： 2002年05月14日
要約：

【要約】【課題】基板単独の検査と、複数の基板を接続した状態の検査を共通の検査装置で、効率良く検査できる内視鏡装置を提供する。【解決手段】基本の映像処理を行うIC14b、14aが実装された基本基板としてのマザーボード11と、機能拡張の処理を行うIC15を実装した第1の機能拡張基板12にはテスト信号の入出力を行うテスト信号コネクタ18a、18bがそれぞれ設けられ、それぞれ単独で検査を行えるようにすると共に、拡張コネクタ17a、17bにより他の基板を着脱自在で接続できるようにすると共に、IC14a等の検査に用いたテスト信号の戻り信号を基板接続に応じて3ステートバッファ19a等により接続された基板側に送信し、しかも接続された基板のICを通した戻り信号を最終的にマザーボード11のテスト信号コネクタ18aの出力部に戻す構成にし、この出力部からの出力信号を調べることにより、複数の基板が接続された状態の場合にも共通の検査装置で簡単に検査ができるようにした。

請求項（抜粋）：

被写体を撮像する撮像手段により得られた撮像信号に対して所定の基本処理する基本映像処理基板と、前記基本映像処理基板に着脱自在に接続し、前記撮像信号に対して所定の拡張処理する拡張処理基板とを備えた内視鏡装置において、動作検査を行うために、前記基本映像処理基板に実装された第1の被検査素子に対してテスト信号を入力するための入力部と、前記基本映像処理基板に実装された第1の被検査素子の正常な動作によって前記第1の被検査素子より出力された第1の戻りテスト信号を前記拡張処理基板に実装された第2の被検査素子に送信するともに前記第2の被検査素子の正常な動作によって前記第2の被検査素子より出力された第2の戻りテスト信号を前記基本映像処理基板に送信する接続手段と、前記接続手段の接続状態に応じて、前記第1の戻りテスト信号と第2の戻りテスト信号とを切り替える切り替え手段と、前記切り替え手段に出力されたテスト信号を外部に出力する出力部と、を備えたことを特徴とする内視鏡装置。

IPC (2件)：

A61B 1/04 370 , G02B 23/24

FI (3件)：

A61B 1/04 370 , G02B 23/24 B , G02B 23/24 Z

Fターム (24件)：

2H040AA01 , 2H040BA00 , 2H040DA21 , 2H040GA10 , 2H040GA12 , 4C061AA00 , 4C061AA29 , 4C061BB00 , 4C061CC06 , 4C061DD00 , 4C061GG01 , 4C061JJ17 , 4C061LL01 , 4C061NN01 , 4C061NN05 , 4C061PP12 , 4C061RR02 , 4C061RR15 , 4C061SS11 , 4C061SS23 , 4C061TT01 , 4C061TT04 , 4C061VV06 , 4C061WW01

前のページに戻る