特許

J-GLOBAL ID：200903058572282736

有機ELパネル用電極の欠陥修正方法

発明者： 上原 昇 ,  大橋 洋一郎
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-365591
公開番号（公開出願番号）：特開2004-199956
出願日： 2002年12月17日
公開日（公表日）： 2004年07月15日
要約：

【課題】有機ELパネル用の電極のショート欠陥部を、YAGレーザを照射して除去することにより修正する、有機EL用パネルの電極欠陥修正方法で、欠陥部の下層にダメージを与えることなく、修正できる方法を提供する。【解決手段】予め、電極材質に対応して、電極材質からなる欠陥部の下層にダメージを与えずに欠陥部を除去するための、YAGレーザの波長、出力条件を、把握しておき、電極材質を除去する際には、それぞれ、前記把握されている電極材質に対応したYAGレーザの波長、出力条件にて、YAGレーザを照射して欠陥部を除去する。そして、YAGレーザの波長が紫外線領域の第4高調波(266nm)以下の短い波長である。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

有機ELパネル用の電極のショート欠陥部を、YAGレーザを照射して除去することにより修正する、有機ELパネル用の電極の欠陥修正方法であって、予め、電極材質に対応して、電極材質からなる欠陥部の下層にダメージを与えずに欠陥部を除去するための、YAGレーザの波長、出力条件を、把握しておき、電極材質を除去する際には、それぞれ、前記把握されている電極材質に対応したYAGレーザの波長、出力条件にて、YAGレーザを照射して欠陥部を除去することを特徴とする有機ELパネル用電極の欠陥修正方法。

IPC (4件)：

H05B33/10 ,  B23K26/00 ,  H05B33/14 ,  H05B33/28

FI (4件)：

H05B33/10 ,  B23K26/00 H ,  H05B33/14 A ,  H05B33/28

Fターム (12件)：

3K007AB08 ,  3K007AB18 ,  3K007BA06 ,  3K007CB01 ,  3K007DB03 ,  3K007FA00 ,  4E068AC01 ,  4E068CA01 ,  4E068CA02 ,  4E068CA04 ,  4E068CB02 ,  4E068DA09