特許

J-GLOBAL ID：200903058577156488

表面プラズモン共鳴を利用した試料の分析装置及び表面プラズモン共鳴分析用センサチップ

発明者： 山内 隆
出願人/特許権者： 三菱化学株式会社
代理人 (1件)： 真田 有
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-381741
公開番号（公開出願番号）：特開2003-185569
出願日： 2001年12月14日
公開日（公表日）： 2003年07月03日
要約：

【要約】【課題】 簡素で小型な構成によって、短時間で効率的に試料の分析を行なうことができ、且つ二次元で多スポットされた試料の分析も可能とする。【解決手段】 試料Sと接触するセンサ面9Aを有するとともに前記センサ面9Aへ光を照射することにより表面プラズモン共鳴現象を生じ得るセンサチップ9を用いて試料Sの分析を行なう装置A1において、面状のレーザー発光素子11を有し前記センサ面9Aに光を照射する面発光レーザー光源1と、前記センサ面9Aへの前記照射光の入射に伴う前記センサ面9Aからの反射光の強度を測定する測定手段2と、前記反射光の強度に基づいて表面プラズモン共鳴による前記照射光の吸収状態を求めることにより前記試料を分析する分析手段3とを備えるように構成する。

請求項（抜粋）：

試料と接触するセンサ面を有するとともに、前記センサ面へ光を照射することにより表面プラズモン共鳴現象を生じ得るセンサチップを用いて、試料の分析を行なう装置において、面状のレーザー発光素子を有し、前記センサ面に光を照射する面発光レーザー光源と、前記センサ面への前記照射光の入射に伴う、前記センサ面からの反射光の強度を測定する測定手段と、前記反射光の強度に基づいて、表面プラズモン共鳴による前記照射光の吸収状態を求めることにより、前記試料を分析する分析手段とを備えることを特徴とする、表面プラズモン共鳴を利用した試料の分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/01

FI (2件)：

G01N 21/27 C ,  G01N 21/01 D

Fターム (23件)：

2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD03 ,  2G059DD11 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059FF11 ,  2G059FF12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK04 ,  2G059LL10 ,  2G059MM01 ,  2G059PP01