特許

J-GLOBAL ID：200903058579744670

テクスチャ解析処理装置

発明者： 井上 有理子
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-125188
公開番号（公開出願番号）：特開平8-320930
出願日： 1995年05月24日
公開日（公表日）： 1996年12月03日
要約：

【要約】【目的】この発明は、簡便にして、容易なテクスチャ解析分類処理を実現したうえで、高精度な地形・地質の解析分類を実現することにある。【構成】輝度で示されるSAR画像から局所的に複数の教師データを抽出して、この教師データのテクスチャ特徴パラメータ(BS,GS,DD,DU)値を算出し、このテクスチャ特徴パラメータ(BS,GS,DD,DU)値に基づいてテクスチャ構造の類似している教師データ同士をグループ化して各グループ内で最も特徴とする特徴教師データを抽出し、この特徴教師データを用いてSAR画像全体のテクスチャ分類を行うように構成して、所期の目的を達成したものである。

請求項（抜粋）：

処理対象画像の複数のエリアよりそれぞれ分類の基となる教師データを抽出する教師データ抽出手段と、この教師データ抽出手段で抽出した複数のエリアからの各教師データより地形情報を加味したテクスチャの特徴を表すテクスチャ特徴パラメータ値を算出して、該テクスチャ特徴パラメータ同士の差分値に基づいた距離行列計算を実行し、距離の近い教師データ同士をグループ化するグループ化手段と、このグループ化手段でグループ化された教師データの中からグループ外の教師データとの距離計算値の最も大きい教師データをグループ内の特徴教師データとして抽出する特徴教師データ抽出手段と、前記処理対象画像において前記教師データサイズ毎に前記テクスチャ特徴パラメータ値を算出し、前記特徴教師データとの距離行列計算を実行して最も近い特徴教師データと同分類とするテクスチャ分類手段とを具備したテクスチャ解析処理装置。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G01S 13/88 ,  G01V 3/17

FI (3件)：

G06F 15/70 465 Z ,  G01S 13/88 Z ,  G01V 3/17