特許

J-GLOBAL ID：200903058583935111

ターゲツトマーク、撮像装置、ならびにそれらを用いる相対位置および姿勢測定装置

発明者： 中谷 一郎 ,  川口 淳一郎 ,  上田 澄広 ,  平山 真明 ,  坂田 隆司 ,  三石 格禎
出願人/特許権者： 川崎重工業株式会社
代理人 (1件)： 西教 圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-099229
公開番号（公開出願番号）：特開平5-133715
出願日： 1991年04月30日
公開日（公表日）： 1993年05月28日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 たとえば宇宙空間において宇宙機が他の宇宙構造体にランデブ・ドッキングする場合、光学的に相対位置および姿勢の測定を行う。【構成】 被検出物体には、ターゲットマーク25を取付け、このターゲットマークを同軸落射照明付き撮像装置によって撮像し、2次元の画像を処理して、被検出物体の3次元の位置および姿勢を測定する。ターゲットマークは、回帰反射板31の内部に識別し易い形状を有する領域を備え、その領域の背後に、周囲から遮光部材によって遮光された低反射部材34を立体的に配置し、回帰反射板というのは、光の照射された方向に光を反射する板であり、低反射部材は、黒色の艶消し塗装を施した板である。

請求項（抜粋）：

回帰反射板の内部に識別し易い形状を有する領域を備え、その領域の背後に、周囲から遮光部材によって遮光された低反射部材を立体的に配置したことを特徴とするターゲットマーク。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  H04N 5/225

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-178934
  
• 特開昭63-153414
  
• 特開昭63-260526