特許
J-GLOBAL ID：200903058629099097
自動分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-057753
公開番号（公開出願番号）：特開平5-256853
出願日： 1992年03月16日
公開日（公表日）： 1993年10月08日
要約：
【要約】【目的】標準試料液を用い多点の検量線を作成する自動分析装置において、装置の分注機構及び測光系機構の性能に合わせ、1つの標準試料液より広範囲な濃度の標準試料液を得て多点の検量線を作成することができる自動分析装置を提供する。【構成】分析パラメータ画面より入力された、標準試料液の装置上の設置位置と標準試料液分注量(希釈前の標準試料液量),希釈液分注量,標準試料分注量を分析パラメータとして記憶装置へ記憶する。検量線作成モード時33に、記憶装置より分析パラメータを読みだし34、この情報に基づき、標準試料液を希釈液で希釈しながら、任意の濃度の標準試料液を得て、多点の検量線を作成する。
請求項（抜粋）：
試料の希釈機能を有した分析機構と、測定されたデータ及び分析条件を記憶する記憶装置と測定データ分析条件の入出力を行う入出力装置と、前記分析機構,記憶装置,入出力装置の制御を行う中央処理部からなる自動分析装置において、1つの標準試料液を標準試料液と希釈液の量を変え任意の希釈倍率で希釈して、各種の濃度の標準試料液を得て多点の検量線を作成することを特徴とする自動分析装置。
IPC (5件)：
G01N 35/00
, G01D 3/00
, G01N 1/10
, G01N 21/01
, G01N 21/27
