特許

J-GLOBAL ID：200903058706069970

はんだ付け検査方法及び装置

発明者： 糸魚川 功
出願人/特許権者： 富士通テン株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-277102
公開番号（公開出願番号）：特開平7-128252
出願日： 1993年11月05日
公開日（公表日）： 1995年05月19日
要約：

【要約】【目的】 基板上のはんだ付けの良否を判定するにあたり、はんだ形状のばらつき等に影響されずにはんだ付けの良否を精度よく、しかも容易に判定できることを目的とする。【構成】 本発明では、基板上にあるパターンの色彩を認識して、検出したパターンの色彩からパターンの露出量を求め、そしてこの露出量が少なければはんだ付けが正常、大きければはんだ不濡れ等の不良な状態であると判定する。また、基板上にある電子部品の電極の色彩を認識して、検出した電子部品の電極の色彩からこの電極の露出量を求め、そしてこの露出量から上記はんだ付けの正常、不良を判定する。

請求項（抜粋）：

基板上におけるパターン及び電子部品の電極のはんだ付けの良否を判定するはんだ付け検査方法において、該パターンの色彩を認識し、該認識結果により前記はんだ付けの良否を判定するようにしたことを特徴とするはんだ付け検査方法。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  H05K 3/34 512

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭60-052728
  
• 特開平2-015377
  
• 特開平4-115146