特許

J-GLOBAL ID：200903058714117665

回路検査装置

発明者： 遠藤 歳永 ,  田中 順二
出願人/特許権者： 住友ベークライト株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-002438
公開番号（公開出願番号）：特開平5-188085
出願日： 1992年01月09日
公開日（公表日）： 1993年07月27日
要約：

【要約】【構成】 検体2であるプリント回路板の検査パッド12と1対1で対応するパッド7を有するフレキシブル回路板に、フレキシブル回路板のパッド7を形成している面と反対側の面にゴム状支持体8、9が接着されており、かつパッド7の裏面のゴム状支持体9が他のゴム状支持体8より高弾性であるプリント回路検査装置。【効果】 検体のパッドを傷つけることなく、確実に密着させ接触抵抗を極力小さくすることができるため、信頼性の高い検査が可能である。また検体の回路作成技術をそのまま応用できるため、半導体の小型化、高密度化に十分対応できる。

請求項（抜粋）：

検体であるプリント回路板の検査パッドと1対1で対応するパッドを有するフレキシブル回路板に、フレキシブル回路板のパッドを形成している面と反対側の面にゴム状支持体が接着されており、かつパッドの裏面のゴム状支持体が他のゴム状支持体より高弾性であることを特徴とするプリント回路検査装置。

IPC (4件)：

G01R 1/073 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G01R 31/28