特許

J-GLOBAL ID：200903058733668834

複屈折層ギャップ厚測定方法及び装置

発明者： 伊藤 正弥 ,  西井 完治 ,  高本 健治 ,  福井 厚司
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-158967
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005040
出願日： 1995年06月26日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】【目的】 ねじれ角が90 ゚以外あるいはラビング方向が未知な液晶でも、そのギャップ厚を短時間で正確に測定できるギャップ厚測定方法及び装置を提供する。【構成】 平行ニコル状態あるいは直交ニコル状態に設定された2枚の偏光板2、6間に複屈折層を有する被測定対象(液晶3)を設置すると共に、2枚の偏光板2、6間に第1の偏光板の透過方向と光学軸が一致するように設定された位相板4を設置し、位相板4を回転させると2枚目の偏光板2、6を透過する光量が変化するため、透過光量が極値となる位相板4の回転角を測定することにより、この位相板4の回転角から液晶3の複屈折層ギャップ厚を計算により求める。

請求項（抜粋）：

平行ニコル状態あるいは直交ニコル状態に設定された2枚の偏光板間に複屈折層を有する被測定対象を設置する工程と、2枚の偏光板間に第1の偏光板の透過方向と光学軸が一致するように設定された位相板を設置する工程と、位相板を回転させ2枚目の偏光板を透過する光量が極値となる位相板の回転角を測定する工程と、前記位相板の回転角に基づき複屈折層ギャップ厚を算出する工程を備えていることを特徴とする複屈折層ギャップ厚測定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/06 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101

FI (3件)：

G01B 11/06 Z ,  G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平4-184207
  
• 偏光解析装置及び位置ずれ補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-322800   出願人：キヤノン株式会社