特許

J-GLOBAL ID：200903058759092078

屈折率測定方法及びその装置

発明者： 川口 賢治 ,  津田 博司
出願人/特許権者： 京都電子工業株式会社
代理人 (1件)： 福井 豊明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-061575
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273328
出願日： 1993年03月22日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】 屈折率測定方法及びその装置に関し、短時間で試料を所定の温度に調節することができるとともに、試料温度の制御精度を高めることができ、しかも、小型にできるようにした屈折率測定方法及びその装置を提供することを目的とする。【構成】 プリズム1を用いる全反射法による屈折率測定方法において、上記プリズム1の一表面3を覆う高熱伝導性ブロック6を介して、温調素子8で試料5の温度調節を行う構成とする。

請求項（抜粋）：

プリズム(1) を用いる全反射法による屈折率測定方法において、上記プリズム(1) の少なくとも一表面を覆う高熱伝導性ブロック(6) を介して、温調素子(8) で上記プリズム(1) の上面に置かれた試料(5) の温度調節を行うことを特徴とする屈折率測定方法。

IPC (2件)：

G01N 21/43 ,  G01N 21/01

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭58-027044
  
• 特開平1-170838
  
• 特開平2-309235