特許

J-GLOBAL ID：200903058759829968

光ディスクの欠陥高さ検出装置及びその保護面良否判別装置

発明者： 出茂 茂
出願人/特許権者： 日本カノマックス株式会社
代理人 (1件)： 岡本 宜喜 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-187858
公開番号（公開出願番号）：特開2000-018933
出願日： 1998年07月02日
公開日（公表日）： 2000年01月21日
要約：

【要約】【課題】 光ディスクの保護面に生じる欠陥の高さを検出し、光ディスクの良否を判別すること。【解決手段】 レーザ光源1より直角プリズム5,6及び8を介して光ディスク9の表面にレーザ光を照射する。その反射光をPSD10によって受光する。光ディスク9の表面に欠陥があれば、その欠陥に応じてPSD10の受光位置が変動する。受光位置の変動のピーク値は欠陥の高さと相関を有することから、受光位置の変化に基づいて欠陥の高さを検出している。又欠陥の高さに基づいて光ディスクの良否を判別することができる。

請求項（抜粋）：

光源と、光源の光を光ディスクの保護面に向けて集束して光ビームを照射する光学手段と、前記光ディスクの保護面からの反射光を受光する1次元の位置検出素子と、前記位置検出素子に入射される反射光の受光位置の変化を検出する位置検出手段と、前記光ディスクの保護面の欠陥毎に、夫々の欠陥部分への光ビームの入射によって得られる前記位置検出手段からの出力変化のピーク値に基づいて、その欠陥の高さを検出する欠陥高さ検出手段と、光ディスクを一定速度で回転させると共に、前記光学手段からの照射位置をその半径方向に変化させることによって光ディスクの面を走査させる走査手段と、具備することを特徴とする光ディスクの欠陥高さ検出装置。

IPC (4件)：

G01B 11/30 ,  G01N 21/88 ,  G11B 7/00 ,  G11B 7/26 531

FI (4件)：

G01B 11/30 D ,  G01N 21/88 G ,  G11B 7/00 H ,  G11B 7/26 531

Fターム (49件)：

2F065AA24 ,  2F065AA49 ,  2F065BB03 ,  2F065CC03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF43 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ16 ,  2F065KK01 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL36 ,  2F065LL37 ,  2F065MM04 ,  2F065MM07 ,  2F065PP02 ,  2F065PP13 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ51 ,  2F065TT03 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05 ,  2G051AA71 ,  2G051AB02 ,  2G051AB12 ,  2G051AC15 ,  2G051BA10 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051CD04 ,  2G051CD07 ,  2G051DA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  5D090AA01 ,  5D090CC18 ,  5D090DD03 ,  5D090DD05 ,  5D090FF38 ,  5D121AA04 ,  5D121HH01