特許
J-GLOBAL ID：200903058766718306
表面電位測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
樺山 亨 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-116345
公開番号（公開出願番号）：特開平7-319237
出願日： 1994年05月30日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：
【要約】【目的】 この発明は、感光体上に残留電位があっても電位測定手段の出力直線式を正確に算出できるようにすることを目的とする。【構成】 この発明は、高圧電源19から感光体11に既知の電圧を印加して感光体11の表面電位を測定する電位測定手段13と、電位測定手段13の経時的なオフセット量を検知して電位測定手段13の測定値を補正する補正手段22とを有し、補正手段22が電位測定手段13の補正値を演算する時の入力因子として、既知の電圧を印加する直前の除電された感光体11の表面電位を用いるものである。
請求項（抜粋）：
感光体の表面電位を測定してその結果に基づいて該感光体の表面電位等を制御する画像形成装置で、高圧電源から前記感光体に既知の電圧を印加して前記感光体の表面電位を測定する電位測定手段と、この電位測定手段の経時的なオフセット量を検知して該電位測定手段の測定値を補正する補正手段とを有する表面電位測定装置において、前記補正手段が前記電位測定手段の補正値を演算する時の入力因子として、既知の電圧を印加する直前の除電された前記感光体の表面電位を用いることを特徴とする表面電位測定装置。
IPC (2件)：
G03G 15/00 303
, G01R 29/12
