特許

J-GLOBAL ID：200903058776873679

プリント配線基板の検査装置、プレート状検査治具及び検査方法

発明者： 岡本 秀男
出願人/特許権者： モズ電子工業株式会社
代理人 (1件)： 盛田 昌宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-220786
公開番号（公開出願番号）：特開平11-051999
出願日： 1997年07月31日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：

【要約】【課題】 検査プローブを精度高く検査接点に導いて確実な検査を行えるとともに、多数個取り基板の検査を極めて簡単にかつ低コストでを行う。【解決手段】 プリント配線基板41を一体的に保持する基板保持領域とこの基板保持領域の周囲に配置される基板位置決め領域とを備えるプレート状検査治具34と、検査テーブルないし上記基板位置決め領域に設けられ、上記プレート状検査治具を検査テーブルの所定位置に位置決めできる位置決め手段38とを備え、上記プリント配線基板を上記プレート状検査治具を介して上記検査テーブルの所定の検査位置に位置決めするように構成している。

請求項（抜粋）：

所定の検査位置にプリント配線基板を位置決め保持できる検査テーブルと、検査プローブを上記プリント配線基板に対して接触離間可能に保持する検査ヘッドとを備えるプリント配線基板の検査装置であって、上記プリント配線基板を一体的に保持する基板保持領域と、この基板保持領域の周囲に配置される基板位置決め領域とを設けたプレート状検査治具と、上記検査テーブルないし上記基板位置決め領域に設けられ、上記プレート状検査治具を検査テーブルの所定位置に位置決めする位置決め手段とを備え、上記プリント配線基板を上記プレート状検査治具を介して上記検査テーブルの所定の検査位置に位置決めするように構成したことを特徴とする、プリント配線基板の検査装置。

IPC (3件)：

G01R 31/02 ,  G01R 31/28 ,  H05K 13/08

FI (3件)：

G01R 31/02 ,  H05K 13/08 C ,  G01R 31/28 K