特許
J-GLOBAL ID：200903058802588147
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-266306
公開番号（公開出願番号）：特開平5-107054
出願日： 1991年10月15日
公開日（公表日）： 1993年04月27日
要約：
【要約】【目的】この発明の測距装置にあっては、複数回投光した場合の測距出力を積分し、その積分結果によって被写体距離を求めるために、該積分結果が所定レベルを越えるまでの投光時間の総和から距離を求めることを特徴とする。【構成】この発明の測距装置は、発光素子2から投光レンズ3を介して測距対象物4に向けて測距用光を断続的に複数回投光する。そして、上記測距対象物4からの測距用光の反射光を、受光レンズ5を介して受光素子1A、1Bにて受光して、測距対象物4までの距離に応じた信号電流を出力する。この信号電流を演算部6にて積分し、この積分量が所定値を越えるまでの投光回数または投光時間の総和に基いて演算して、被写体距離を求める。
請求項（抜粋）：
被写体に向けて測距用光束をパルス光で複数回投光する投光手段と、上記被写体からの上記測距用光束の反射光を受光し、上記被写体の距離に応じた信号電流を出力する受光手段と、上記信号電流を積分する積分手段と、上記積分手段の積分値が所定値を越えるまでの上記投光手段による投光時間の総和を検出する積分時間検出手段とを具備し、上記積分時間検出手段によって検出された投光時間の総和に基いて上記被写体までの距離を求めることを特徴とする測距装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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