特許

J-GLOBAL ID：200903058809298691

写真支持体上の欠陥を計数し特性を表示する方法及び装置

発明者： ティエリー プリジェン
出願人/特許権者： イーストマン コダック カンパニー
代理人 (1件)： 石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-144494
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005576
出願日： 1995年06月12日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：

【要約】【目的】 写真支持体上の欠陥を計数しその特性を表示する方法と装置を提供する。【構成】 本発明によれば、支持体1が光学密度測定装置2の前方を通過させられ、前記装置によって与えられた光学密度の値が欠陥を検知し、計数し、特性を表示するため分析され、前記欠陥が、支持体1が通過する第1の速度V1 の間に検知され、検知された欠陥の計数と特性表示に必要なデータが、速度V1 より低い支持体の通過する第2の速度V2 の間に捕捉され蓄積されることを特徴としている。この方法は写真フイルムの処理に適用される。

請求項（抜粋）：

支持体(1)が光学密度測定装置(2)の前方を通過させられ光学密度測定装置(2)により与えられた光学密度の値が欠陥を検知し計数し特性表示するため分析される、写真支持体上の欠陥を計数し特性表示する方法において、前記欠陥が支持体(1)の通過する第1の速度V1 の間に検知され、この検知された欠陥の計数と特性表示に必要なデータが前記速度V1 より低い支持体の通過する第2の速度V2 の間に捕捉され蓄積されることを特徴とする写真支持体上の欠陥を計数し特性表示する方法。