特許
J-GLOBAL ID：200903058907682963
磁気カードの特性検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西教 圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-252139
公開番号（公開出願番号）：特開平5-089456
出願日： 1991年09月30日
公開日（公表日）： 1993年04月09日
要約：
【要約】【目的】 磁気カードの電磁変換特性と耐久性とを効率よく検査する。【構成】 磁気カード13は、搬送系6によって書込みヘッド3および読取りヘッド4と対向して搬送される。制御装置9は、I/F装置7を介して、書込みヘッド3が記録したデータを読取りヘッド4から読取り、電磁変換特性を検査する。搬送系6は、磁気カード13を消去ヘッド5を中心として耐摩耗性試験領域内を繰返し往復運動させ、その間消去ヘッド5には予め定める押圧力が加えられて、耐摩耗性試験が行われる。耐摩耗性試験の試験回数が入力装置11から入力された値に達すると、搬送系6は磁気カード13を書込みヘッド3および読取りヘッド4側の電磁変換特性試験領域に搬送させ、電磁変換特性試験を行う。
請求項（抜粋）：
磁気カードに予め定める条件で試験データを書込む書込みヘッドと、磁気カードに記録されたデータを予め定める条件で読取る読取りヘッドと、磁気カードに予め定めるヘッド圧を印加した状態で、予め定める回数の耐久性試験を行う耐久性試験手段と、書込みヘッドによって磁気カードに書込んだ試験データを読取りヘッドによって読取り、磁気カードの電磁変換特性を検査し、かつ連続する耐久性試験手段によって耐久性を評価する制御手段とを含むことを特徴とする磁気カードの特性検査装置。
IPC (4件)：
G11B 5/84
, B42D 15/10 501
, G06K 17/00
, G11B 5/00
