特許
J-GLOBAL ID：200903058926371340
測距装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-017344
公開番号（公開出願番号）：特開平7-225125
出願日： 1994年02月14日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：
【要約】【目的】この発明の測距装置にあっては、スポット欠けがあっても正確にスポットのピークを演算するために、基準データと相関演算を行ってピーク位置を決定することを特徴とする。【構成】タイミング発生部3の制御により、投光部1から測距対象物に向けて所定のタイミングでスポット光が照射される。上記測距対象物より反射された光は受光部2で受光される。この受光部2から出力される受光信号は、正規化部4にて正規化され、この正規化された受光信号の形状が形状判定部5にて判定される。上記スポット光の形状が判定されると、基準データ選択部6により、基準データが選択され、この基準データを基に上記受光部2上のピーク位置がピーク位置決定部7により決定される。
請求項（抜粋）：
測距対象物にスポット光を投光する投光手段と、上記測距対象物からの反射光を受光し、その入射位置に応じて光電変換信号を出力する複数の受光素子から成る受光手段と、この受光手段の出力から上記反射光の受光位置を求め、この受光位置に基いて上記測距対象物までの距離を検出する測距装置に於いて、上記複数の受光素子からそれぞれ出力される上記光電変換信号を正規化する正規化手段と、この正規化手段によって正規化された上記光電変換信号に基いて、上記反射光のパターンを判定する形状判定手段と、この形状判定手段によって判定された上記反射光のパターンに基いて基準データを選択する選択手段と、この基準データに基いて上記複数の受光素子上の反射光のピーク位置を演算するピーク位置決定手段とを具備したことを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
