特許

J-GLOBAL ID：200903058937104514

磁気デイスクの検査装置

発明者： 小林 義郎
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-189935
公開番号（公開出願番号）：特開平5-036063
出願日： 1991年07月30日
公開日（公表日）： 1993年02月12日
要約：

【要約】【目的】磁気ディスクに必要な複数種類の検査を、磁気ディスクを各専用の検査装置のスピンドルに掛け替えすることなく、1台の検査装置にて自動的に行うことができる磁気ディスクの検査装置を提供すること。【構成】間欠回転機構5を有するターンテーブル1と、このターンテーブル1を所定数に割出した位置に配設された複数のスピンドル2と、このスピンドル2のぞれぞれを回転させる回転駆動手段と、前記ターンテーブル1が間欠回転して停止する位置に配設され、前記スピンドル2に取付けられた磁気ディスクDを検査する複数の検査手段7,8,9,10・・・とを有することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

間欠回転機構(5)を有するターンテーブル(1)と、このターンテーブル(1)を所定数に割出した位置に配設された複数のスピンドル(2)と、このスピンドル(2)のぞれぞれを回転させる回転駆動手段と、前記ターンテーブル(1)が間欠回転して停止する位置に配設され、前記スピンドル(2)に取付けられた磁気ディスク(D)を検査する複数の検査手段(7),(8),(9),(10)・・・とを有することを特徴とする磁気ディスクの検査装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-007480
  
• 特開昭61-180162
  
• 特開平4-315037