特許
J-GLOBAL ID：200903058963094233
感光体の相反則不軌評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小島 俊郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-040289
公開番号（公開出願番号）：特開2003-241403
出願日： 2002年02月18日
公開日（公表日）： 2003年08月27日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、マルチビーム走査露光光学系に対して適切な感光体を評価するための感光体の相反則不軌評価方法を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明の感光体の相反則不軌評価方法によれば、露光パターンにマルチビームの同時露光と、マルチビーム走査露光間の順次露光とにおける露光後の感光体の露光エネルギーに対する各電位を測定し、測定した各電位を比較して、比較した結果に応じて被検査体の感光体が相反則不軌を生じるか否かを評価する。
請求項（抜粋）：
N個(Nは2以上の整数)のLD露光光源のビームが副走査方向に距離Lの等間隔で並び、このビームがビーム走査手段により主走査露光を行うマルチビームヘッド書き込み光学系に対して、所定の電位に帯電された被検査体の感光体を等速度で移動させつつ、副走査方向に並ぶ複数個の光源のビームを全て同時点灯して主走査方向に走査露光を行い、次の主走査方向の露光時、先の複数光源のうち最後の光源の走査露光からLだけ離れた位置から、次の複数光源の最初の光源の走査露光が始まるようにして、順次露光を繰り返す露光方法で感光体の露光後の露光エネルギーに対する第1の電位を計測し、N個(Nは2以上の整数)のLD露光光源のビームが副走査方向に距離Lの等間隔で並び、このビームがビーム走査手段により主走査露光を行うマルチビームヘッド書き込み光学系に対して、所定の電位に帯電された被検査体の感光体を等速度で移動させつつ、副走査方向に並ぶ複数個の露光光源の内1個の露光光源のみ点灯して主走査露光を副走査方向にLの間隔で順次繰り返す露光方法で感光体の露光後の露光エネルギーに対する第2の電位を計測し、第1の電位と第2の電位を比較し、比較した結果に応じて被検査体の感光体が相反則不軌を生じるか否かを評価することを特徴とする感光体の相反則不軌評価方法。
IPC (3件)：
G03G 5/00 101
, G03G 5/04
, G03G 21/00
G03G 5/00 101
, G03G 5/04
, G03G 21/00
2H068AA11
, 2H068EA41
, 2H134QA02
