特許
J-GLOBAL ID:200903058983450567
三次元形状測定装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-215206
公開番号(公開出願番号):特開2001-356010
出願日: 2000年06月12日
公開日(公表日): 2001年12月26日
要約:
【要約】【課 題】不連続面や段差がある測定対象面を1回の撮影で、撮像範囲全般にわたって三次元形状を測定することが可能な三次元形状測定装置で、しかもカメラ位置に制限無く撮像ができる三次元形状測定装置を提供する。【解決手段】光源1より発生した光は、前処理レンズ郡2を通過し、パターンプリズム3で2つの周波数領域に測定格子パターン22と位置格子パターン23でそれぞれの格子パターンが作成され、投影レンズ4より測定対象物5に投影される。撮像レンズ6で集光された光は、反射プリズム7で2つの周波数領域に振り分けられ、位置格子パターンはCCDセンサ10で撮像され、測定格子パターンはCCDセンサ14で撮像される。撮像された画像は、形状解析装置21で3次元座標に変換される。
請求項(抜粋):
三次元形状の測定対象物にパターンを投影する投影手段と、測定対象物に投影された像を撮像する撮像手段と、撮像された画像とを用いた三次元形状測定装置において、投影手段は光を周波数領域別に複数の投影パターンを作成し、少なくとも1つの投影パターンは、複数領域に分割されており、分割された領域内にコードパターンを有することと、撮像手段は光の周波数領域別に撮像する手段を備えたことを特徴とする三次元形状測定装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G01B 11/24 E
, G01B 11/24 K
, G01B 11/24 A
Fターム (25件):
2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD00
, 2F065DD06
, 2F065FF07
, 2F065FF49
, 2F065GG03
, 2F065GG12
, 2F065HH07
, 2F065HH09
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065LL12
, 2F065LL22
, 2F065LL31
, 2F065LL33
, 2F065LL37
, 2F065LL47
, 2F065QQ25
, 2F065QQ38
, 2F065SS03
, 2F065SS13
, 2F065UU05
, 2F065UU08
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