特許

J-GLOBAL ID：200903059004385489

測定装置

発明者： テーオドール グラーザー ,  ゲルハルト ヘッツェル ,  ヨハン ヴェールマン ,  ハインツ アイゼンシュミト
出願人/特許権者： ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング
代理人 (1件)： 矢野 敏雄 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-505393
公開番号（公開出願番号）：特表平10-505915
出願日： 1996年03月19日
公開日（公表日）： 1998年06月09日
要約：

【要約】本発明は、測定個所に配設されたセンサ素子を有しており、該センサ素子は、電気接続線路を介して、測定個所から離れた評価装置と接続することができ、その際、電気接続線路は、少なくとも前記測定個所の近くに外部の影響、例えば、高温の影響に対して保護されて案内されるようにした測定装置、例えば、電気化学的測定センサに関する。電気的接続線路(22)を収容する保護装置(24)は、該保護装置の、センサ素子(12)とは反対側の端に、接触接続装置(30)を有しており、該接触接続装置(30)は、評価回路への接続線路(54,56)と接触接続することができるようにすることが提案されている。

請求項（抜粋）：

測定個所に配設されたセンサ素子を有しており、該センサ素子は、電気接続線路を介して、測定個所から離れた評価装置と接続することができ、その際、電気接続線路は、少なくとも前記測定個所の近くに外部の影響、例えば、高温の影響に対して保護されて案内されるようにした測定装置、例えば、電気化学的測定センサにおいて、 電気的接続線路(22)を収容する保護装置(24)は、該保護装置の、センサ素子(12)とは反対側の端に、接触接続装置(30)を有しており、該接触接続装置(30)は、評価回路への接続線路(54,56)と接触接続することができるようにしたことを特徴とする測定装置。

IPC (3件)：

G01N 27/409 ,  F02D 35/00 368 ,  H01R 13/533

FI (3件)：

G01N 27/58 B ,  F02D 35/00 368 D ,  H01R 13/533 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平2-061545
  
• 特開平2-061545