特許
J-GLOBAL ID:200903059132929424

半導体基板

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井内 龍二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-353386
公開番号(公開出願番号):特開平10-150048
出願日: 1996年11月15日
公開日(公表日): 1998年06月02日
要約:
【要約】【課題】 実際のLSI製造時の熱処理により、酸素析出物からスリップ転位が発生し、このスリップ転位が半導体基板の表面を貫通してしまい、リーク電流発生の原因となっていた。【解決手段】 半導体基板に1〜3.3×1017個/cm3 の範囲で炭素を含有させる。
請求項(抜粋):
(5〜20)×1017個/cm3 の酸素を含む半導体基板において、1〜3.3×1017個/cm3 の炭素を含有していることを特徴とする半導体基板。

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