特許

J-GLOBAL ID：200903059155278323

γ線CTによる送電線の腐食診断方法

発明者： 長野 宏治 ,  安富 義幸
出願人/特許権者： 日立電線株式会社 ,  財団法人ファインセラミックスセンター
代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-095266
公開番号（公開出願番号）：特開2001-281171
出願日： 2000年03月29日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
要約：

【要約】【課題】 簡素な構成で高い解像度が得られ、しかも内部の腐食状況を診断することができるγ線CTによる送電線の腐食診断方法を提供する。【解決手段】 γ線を放射するγ線源1とγ線を検出する検出器2とをγ線遮断壁3に囲まれた容器4に収容し、この容器4を送電線5が貫通するように送電線に取り付け、この容器4を送電線5の周りに回転させつつ送電線5を透過したγ線を検出して送電線5を断層撮影する。

請求項（抜粋）：

γ線を放射するγ線源とγ線を検出する検出器とをγ線遮断壁に囲まれた容器に収容し、この容器を送電線が貫通するように送電線に取り付け、この容器を送電線の周りに回転させつつ送電線を透過したγ線を検出して送電線を断層撮影することを特徴とするγ線CTによる送電線の腐食診断方法。

IPC (3件)：

G01N 23/04 ,  H02G 1/02 323 ,  H02G 9/00

FI (3件)：

G01N 23/04 ,  H02G 1/02 323 L ,  H02G 9/00 D

Fターム (16件)：

2G001AA02 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001CA02 ,  2G001HA07 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001MA06 ,  2G001SA04 ,  2G001SA14 ,  5G369AA16 ,  5G369BA01 ,  5G369EA04