特許
J-GLOBAL ID:200903059178719114

歪み計測方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 奥山 尚男 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-079061
公開番号(公開出願番号):特開2000-275018
出願日: 1999年03月24日
公開日(公表日): 2000年10月06日
要約:
【要約】【課題】 トンネル等の構築物に発生した歪みを人手を要することなく精度良く計測する。【解決手段】 構築物1の被測定部位にループ状に光ファイバ2cを貼着する工程と、光ファイバ2cに入射させた光の散乱光に基づいてファイバ2cの歪みを計測する工程とを含むことを特徴とする歪み計測方法。
請求項(抜粋):
構築物の歪みを計測する方法であって、前記構築物の被測定部位にループ状に光ファイバを貼着する工程と、前記光ファイバに入射させた光の散乱光に基づいて該光ファイバの歪みを計測する工程とを含むことを特徴とする歪み計測方法。
IPC (3件):
G01B 11/16 ,  G01D 5/26 ,  G01L 1/24
FI (3件):
G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D ,  G01L 1/24 A
Fターム (26件):
2F065AA01 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065CC40 ,  2F065DD06 ,  2F065FF00 ,  2F065FF12 ,  2F065FF32 ,  2F065FF58 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065JJ01 ,  2F065LL02 ,  2F103CA03 ,  2F103CA07 ,  2F103DA01 ,  2F103EA14 ,  2F103EA17 ,  2F103EA19 ,  2F103EA23 ,  2F103EB02 ,  2F103EB11 ,  2F103EC08 ,  2F103FA02 ,  2F103FA04
引用特許:
審査官引用 (2件)

前のページに戻る