特許

J-GLOBAL ID：200903059273543864

実装基板外観検査装置

発明者： 児玉 知晃
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-137079
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005345
出願日： 1994年06月20日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：

【要約】【目的】 低コストで、組み立て調整が容易で、複数のプリント基板の高さ・輝度データを効率よく得る。【構成】 部品13が実装されたプリント基板12を複数固定した基板回転テーブル11が回転する。レーザ光17をプリント基板12上に照射するレーザ光源15と、プリント基板12からの反射光18を受光して部品13の高さ・輝度データを得るための受光素子16とからなるレーザー照射受光部14をレーザ照射受光部移動装置19により基板回転テーブル11の半径方向に基板回転テーブル11の回転と同期させて移動する。基板回転テーブル11の回転とレーザ照射受光部14の移動を組み合わせることにより、複数のプリント基板12の全面をレーザ光17で照射し、高さ・輝度データを得ることができる。

請求項（抜粋）：

部品の実装されたプリント基板を複数固定して回転させる基板回転テーブルと、レーザ光を上記プリント基板上に照射するレーザ光源および上記プリント基板からの反射光を受光する受光素子を有するレーザ照射受光部と、このレーザ照射受光部を上記基板回転テーブルの回転と同期して上記基板回転テーブルの半径方向に移動させるレーザ照射受光部移動装置とを備えた実装基板外観検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H05K 13/08

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭55-055202
  
• 特開昭63-177071