特許
J-GLOBAL ID：200903059313506355
テスト仕様生成方式
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-043241
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240745
出願日： 1992年02月28日
公開日（公表日）： 1993年09月17日
要約：
【要約】【構成】 テスト項目と動作条件,環境条件,判定条件等の内容は、これらの生成規則と経験則を予め管理・記憶しておくことにより、被テスト製品の製品規格から得られるデータが与えられると、上記の規則によって自動的にテスト項目,テスト条件(プライマリテスト仕様)の決定が行われる。そして、ここで生成されたプライマリテスト仕様に対し、過去に不良となった試験項目,動作条件,判定条件とその原因と対策結果の来歴データを用いることによって、最適化処理を施し、より精度が高く効率の良い最適化されたテスト仕様を生成する。【効果】 各種製造物の出荷及び受け入れ試験のテスト内容を指示するテスト仕様書をテスト時間が短く、必要な試験項目を抜けなく含み、入力,計算ミスのない最適なテスト仕様として自動生成でき、テスト仕様設計時間を短縮できる。
請求項（抜粋）：
製造または受け入れた製品が確実な動作をするか否かを検査するためのテスト仕様を生成する方式において、試験項目と試験順序を経験則として管理・格納する手段と、前記経験則を利用して試験項目を決定する手段と、前記試験項目に沿って、前記製品の製品規格から製品の動作試験のための動作条件,環境条件,判定条件を決定する手段と、その生成則の格納・管理手段と、過去に実際に製品の試験を行った結果、不良となった試験項目,動作条件,判定条件とその原因と対策結果を格納する手段と、過去の試験結果の来歴を整理・抽出する手段と、前記試験項目、並びに前記動作,環境,判定条件の決定手段により生成されたテスト仕様を、前記した過去の試験結果を利用して最適化する手段とを、具備し、被テスト製品の製品規格から得られるデータに基づいてテスト仕様を自動生成してこれを最適化するようにしたことを特徴とするテスト仕様生成方式。
IPC (5件)：
G01M 19/00
, G06F 11/22 310
, G06F 11/22 330
, G06F 15/21
, G06F 15/60 360
