特許
J-GLOBAL ID：200903059319851038
3次元モデル化方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
萼 経夫 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-292325
公開番号（公開出願番号）：特開2002-099901
出願日： 2000年09月26日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：
【要約】【課題】 表面の位置にずれのない高精度の3次元モデルが得られ、CADあるいはCAE等による同モデル(データ)の再利用や加工においても高精度のデータが得られる3次元モデル化方法及び装置を提供する。【解決手段】 被測定物の断面像を用いた三角形ポリゴンの生成処理で用いる表面(輪郭)抽出のためのしきい値として、被測定物と同材質のテストピース31の断面像の輪郭両端部分における輝度値の特性曲線32上の各点から求められる輪郭両端間寸法L1〜Lnのうち、テストピース31の両端間の実寸法L3と一致する特性曲線32上の点に対応する輝度値br3を用いる。
請求項（抜粋）：
被測定物の一定方向に沿って間隔を置いて得られた複数枚の断面像中の隣接する2枚の断面像の対向する各4画素の輝度値を頂点に与えた六面体を得て、その各頂点の輝度値としきい値との比較結果に基づき三角形ポリゴンを生成する補間面形成処理によって3次元モデルを構成する3次元モデル化方法において、前記しきい値として、前記被測定物と同材質で寸法が既知のテストピースの断面像の輪郭の両端部分における輝度値の立上がり、立下がり特性曲線上の各点から求められる前記輪郭の両端間寸法のうち、前記テストピースの両端間の実寸法と一致する当該特性曲線上の点に対応する輝度値を用いることを特徴とする3次元モデル化方法。
IPC (3件)：
G06T 1/00 315
, A61B 6/03 360
, G06T 15/00 200
G06T 1/00 315
, A61B 6/03 360 G
, G06T 15/00 200
4C093CA50
, 4C093FC12
, 4C093FF16
, 4C093FF22
, 4C093FF35
, 4C093FF42
, 4C093FF50
, 5B057DA11
, 5B057DA20
, 5B057DC16
, 5B057DC22
, 5B080AA14
