特許
J-GLOBAL ID：200903059325565900
光検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-346835
公開番号（公開出願番号）：特開平9-162437
出願日： 1995年12月13日
公開日（公表日）： 1997年06月20日
要約：
【要約】【課題】 対応し得る光強度範囲(ダイナミックレンジ)が広く、しかもより高精度で入射光の強度を検出する。【解決手段】 集光光学系1を介して入射される被測定光を受光するアバランシェホトダイオード(APD)2と、そのバイアス電圧を設定するバイアス電圧設定回路6と、APD2からの出力信号を所定に増幅する増幅器4と、その増幅出力中に含まれるパルス波をカウントするパルスカウンタ5とを備え、パルスカウンタ5の計数値により被測定光の光強度を検出するにあたって、APD2に入射される被測定光の光強度に基づいてバイアス電圧設定回路6を制御し、APD2の出力信号が被測定光の光強度に対して直線性を示すようにAPD2に対するバイアス電圧を調整する制御手段7を備えている。
請求項（抜粋）：
集光光学系を介して入射される被測定光を受光するアバランシェホトダイオードと、同アバランシェホトダイオードのバイアス電圧を設定するバイアス電圧設定回路と、上記アバランシェホトダイオードからの出力信号を所定に増幅する増幅器と、その増幅出力中に含まれるパルス波をカウントするパルスカウンタとを備え、同パルスカウンタの計数値により上記被測定光の光強度を検出する光検出装置において、上記アバランシェホトダイオードに入射される上記被測定光の光強度に基づいて上記バイアス電圧設定回路を制御し、上記アバランシェホトダイオードの出力信号が上記被測定光の光強度に対して直線性を示すように上記アバランシェホトダイオードに対するバイアス電圧を調整する制御手段を備えていることを特徴とする光検出装置。
IPC (7件)：
H01L 31/107
, H01L 31/10
, H04B 10/28
, H04B 10/26
, H04B 10/14
, H04B 10/04
, H04B 10/06
H01L 31/10 B
, H01L 31/10 G
, H04B 9/00 Y
