特許

J-GLOBAL ID：200903059361621735

磁粉探傷装置におけるビレット横振れ補正装置

発明者： 和田 豊昭
出願人/特許権者： 株式会社神戸製鋼所
代理人 (1件)： 明田 莞
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-283921
公開番号（公開出願番号）：特開2001-108635
出願日： 1999年10月05日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】正確な疵位置の特定が図れる磁粉探傷装置のビレット横振れ補正装置の提供。【解決手段】平面カメラ9A,9B に投光軸をそれぞれ平行させてA、B平面にそれぞれ対向して設置した二つのレーザ距離センサ15A,15B を備え、角ビレット1のA、B平面との距離を検出する変位計測手段と、この変位計測手段からの距離信号の導入により角ビレット1の変位を算出し、この算出結果に基づいて画像前処理装置13が取り込んだ画像上に得られた角ビレット1の上コーナに相当するエッジ部の座標を変換することにより疵位置の補正を行わせる座標変換手段とが制御系に関連して設けらる。

請求項（抜粋）：

表面疵部に蛍光磁粉が磁着されることにより蛍光磁粉模様が形成されてなる水平搬送中の角ビレットに対し、その隣合う上側の二つの平面にそれぞれ対向させて設けた二つの平面カメラと前記二つの平面の上側縁の各上コーナ面の境界となる上コーナに対向させて設けた上コーナカメラとを備える撮像装置により前記蛍光磁粉模様を撮像して、画像前処理装置を備える表面疵検出装置と統括制御装置とを含んで構成される制御系により前記角ビレットの表面疵を検出した後、表面疵部にマーキングを施すようにした磁粉探傷装置において、前記二つの平面カメラに投光軸をそれぞれ平行させて前記二つの平面にそれぞれ対向して設置した二つのレーザ距離センサを備えて、前記角ビレットの対向する二つの平面との距離を検出する変位計測手段と、この変位計測手段からの距離信号の導入により水平搬送中心線を基準とした前記角ビレットの変位を算出し、この算出結果に基づいて前記画像前処理装置が取り込んだ画像上に得られた角ビレットの上コーナに相当するエッジ部の座標を変換することにより疵位置の補正を行わせる座標変換手段とを前記制御系に関連して設けてなることを特徴とする磁粉探傷装置におけるビレット横振れ補正装置。

IPC (2件)：

G01N 21/91 ,  G01N 27/84

FI (2件)：

G01N 21/91 B ,  G01N 27/84

Fターム (29件)：

2G051AA01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB07 ,  2G051BA05 ,  2G051BA10 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051DA09 ,  2G051DA15 ,  2G051EA08 ,  2G051EA14 ,  2G051EA23 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051EC10 ,  2G051ED23 ,  2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BA03 ,  2G053BA13 ,  2G053BB03 ,  2G053BB05 ,  2G053BB08 ,  2G053CB27 ,  2G053CC07 ,  2G053DC03 ,  2G053DC20