容器密封面検査

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：川原田一穂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-104633
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043320
出願日： 1995年04月06日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：

【要約】【目的】測定面に対する非接触式電気光学技術による、容器密封面のレベル変化量を測定する装置と方法を提供。【構成】容器(22)がその中心軸線の周りに回転する時に、容器の密封面上に鋭角をなして光エネルギーの狭いビーム(44)を指向するように位置ぎめされた光源(42)を含む、容器(22)の密封面(36)を検査する装置。光センサ(46)は、密封面から反射した光エネルギーの狭いビーム(45)を受信し、かつ上記光センサ上の反射した光ビームの入射位置の関数として変化する出力信号を供給する。上記センサは関連電子装置(52)に結合され、容器の高さの表示情報を供給し、かつ上記容器の高さ、容器密封面の歪または下向傾斜、または容器の上向傾斜が、予め決められた標準値を越える時には、コンベヤシステムから容器の分離を制御する信号を供給する。

請求項（抜粋）：

中心軸線(25)および容器キャップに密封係合する軸方向表面仕上密封面(36)で囲まれる開放口を備えた容器(22)の口部(34)を検査する装置であって、該装置が:容器(22)をその中心軸線(25)の周りに回転させる手段(26)、該回転させる手段内の容器の密封面(36)上に光エネルギーの狭いビーム(44)を指向するように位置ぎめされた光源(42)、上記密封面で反射した光エネルギーの狭いビーム(45)を受信するように配置された光センサ手段(46)、上記光源(42)および該光センサ手段(46)は、上記回転させる手段内の上記容器の密封面上方に配置され、かつ容器の密封面に入射し、容器の密封面から反射した上記ビーム(44、45)が上記密封面に直角な平面内にあるように位置ぎめされ、および上記容器の密封面のレベルの変化量を検出する手段(52)、を含み、上記光センサ手段(46)は、該光センサ手段上の光の入射位置の関数として変化する電気出力信号を供給することが特徴であり、上記容器(22)の密封面(36)で上記光センサ手段(46)上へ反射した光ビーム(45)は、上記光源(42)および上記光センサ手段に関して、上記密封面のレベルと共に変化する該光センサ手段上の位置において入射し、そして変化量は、上記容器が回転する時に上記光センサ手段(46)上の反射した光ビーム(45)の入射位置の関数として、上記変化量を検出する手段(52)により検出されることを特徴とする前記容器を検査する装置。

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平1-129112
特開平2-275346
表面形状測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-207129 出願人：協同組合ブライト北九州, 北島博愛

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