特許
J-GLOBAL ID：200903059509997861
光磁気検出器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田辺 恵基
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-360203
公開番号（公開出願番号）：特開平6-203420
出願日： 1992年12月30日
公開日（公表日）： 1994年07月22日
要約：
【要約】【目的】所定の光ビームを光磁気デイスクに照射し、当該光磁気デイスクからの戻り光を受光素子に入射させることによつて光磁気検出信号を得る光磁気検出器において、光学部品の煩雑な位置決め工程を回避すると共に、一段と小型化する。【構成】光磁気デイスクからの戻り光の偏光面を回転させる媒体の第1及び第2の面にビームスプリツタ膜及び偏光ビームスプリツタ膜を接合することにより、光磁気デイスクからの戻り光を受光素子に入射させる光学系を一体化することができ、これにより光学部品の煩雑な位置決め工程を回避し得ると共に当該光磁気検出器を一段と小型化し得る。
請求項（抜粋）：
所定の光ビームを射出する光源と、上記光ビームを光磁気デイスク方向に反射させると共に、上記光磁気デイスクにおいて反射した戻り光を透過させるビームスプリツタ膜と、上記ビームスプリツタ膜に接合され、上記ビームスプリツタ膜を透過した上記戻り光の偏光面を45度回転させて透過する媒体と、上記媒体に接合され、上記媒体を透過した上記戻り光をそれぞれ異なる偏光方向でなる第1及び第2の偏光成分に分離し、上記第1の偏光成分を第1の受光素子に入射させると共に上記第2の偏光成分を上記ビームスプリツタ膜において反射させた後、第2の受光素子に入射させる偏光ビームスプリツタ膜とを具えたことを特徴とする光磁気検出器。
IPC (2件)：
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