特許

J-GLOBAL ID：200903059519412500

EMC試験評価システム

発明者： 阪口 啓 ,  廣瀬 雅信
出願人/特許権者： 財団法人 理工学振興会
代理人 (1件)： 安形 雄三 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-383617
公開番号（公開出願番号）：特開2002-181862
出願日： 2000年12月18日
公開日（公表日）： 2002年06月26日
要約：

【要約】【課題】EMC試験サイトにおける個々の特性劣化要因を特定できるEMC試験評価システムを提供すると共に、このEMC試験評価システムを使用して得られた結果を用いてEMC試験サイトを改良する方法を提供する。【解決手段】オープンサイトや電波暗室(電波吸収体5面、電波吸収体6面)等のEMC試験サイトと、前記EMC試験サイト内の供試体の位置に設置された送信機と、前記供試体が発生する妨害波を測定する位置に設置された受信機と、前記送信機及び受信機を制御すると共に、前記受信機からの信号を処理する信号処理装置とを設ける。

請求項（抜粋）：

オープンサイトや電波暗室等のEMC試験サイトと、前記EMC試験サイト内の供試体の位置に設置された送信機と、前記供試体が発生する妨害波を測定する位置に設置された受信機と、前記送信機及び受信機を制御すると共に、前記受信機からの信号を処理する信号処理装置とを具備したことを特徴とするEMC試験評価システム。

IPC (2件)：

G01R 29/08 ,  H05K 9/00

FI (2件)：

G01R 29/08 Z ,  H05K 9/00 Z

Fターム (5件)：

5E321AA41 ,  5E321AA42 ,  5E321GG05 ,  5E321GG11 ,  5E321GH10