特許
J-GLOBAL ID:200903059539945378

窯業系板状体の品質測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森本 義弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-300736
公開番号(公開出願番号):特開平10-232107
出願日: 1996年11月13日
公開日(公表日): 1998年09月02日
要約:
【要約】【課題】連続的に順次供給される窯業系板状体を未硬化、硬化の状態を問わず不定誤差の入る余地を極めて少なく検査し、確実な品質管理に寄与し得る窯業系板状体の品質測定装置を提供することを目的とする。【解決手段】表面1Aにアルミ層2を有し、このアルミ層2表面に窯業系板状体Gが載置されるパレット1と、該パレット1が載置される水平基台3と、該水平水平基台3に対し斜方向から光を照射しパレット上の窯業系板状体GのエッジG1 に沿って影を作る光源4A、該光源4Aと一定の位置関係を有し、かつ前記水平基台3に対し垂直な光軸4Bを有し前記エッジG1 に対し直交する方向の前記影の部分を検知し、かつ水平二次元面内を移動可能に支持されたリニヤエンコーダ4Cからなる形状認識装置4と、該形状認識装置4と同じ基枠4Dに支持され前記窯業系板状体G表面G2 に対し垂直上下方向に近接可能に支持された硬度測定装置5と、前記アルミ層2と共同する渦電流センサ6Aからなる厚み測定装置6と、前記水平基台3中心部分から前記パレット1裏面へ向け出没自在とされた重量測定装置7とからなる。
請求項(抜粋):
表面にアルミ層を有し、このアルミ層表面に窯業系板状体が載置されるパレットと、該パレットが載置される水平基台と、該水平基台に対し斜方向から光を照射し、パレット上の窯業系板状体のエッジに沿って影を作る光源と、該光源と一定の位置関係を有し、かつ前記水平基台に対し垂直な光軸を有し前記エッジに対し直交する方向の前記影の部分を検知し、かつ水平面二次元方向に移動可能に支持されたリニヤエンコーダからなる形状認識装置と、該形状認識装置と同じ基枠に支持され前記窯業系板状体表面に対し垂直上下方向に近接可能に支持された硬度測定装置及び前記アルミ層表面と共同する渦電流センサからなる厚み測定装置と、前記水平基台中心部分から前記パレット裏面へ向け出没自在とされた重量測定装置とからなることを特徴とする窯業系板状体の品質測定装置。
IPC (5件):
G01B 11/00 ,  G01B 7/06 ,  G01B 21/02 ,  G01B 21/28 ,  G01G 19/52
FI (5件):
G01B 11/00 A ,  G01B 7/06 Z ,  G01B 21/02 C ,  G01B 21/28 ,  G01G 19/52 Z

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