特許

J-GLOBAL ID：200903059578407464

X線透視検査装置及び最適X線条件計算プログラム

発明者： 宇山 喜一郎 ,  吉原 達行 ,  ▲ツル▼ 祥司
出願人/特許権者： 東芝ITコントロールシステム株式会社
代理人 (6件)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-113200
公開番号（公開出願番号）：特開2004-317368
出願日： 2003年04月17日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：

【課題】未知の被検体に対しても、その透過像に基づいて物理的に最適なX線条件を求めることのできるX線透視検査装置を提供すること。【解決手段】X線管1と、このX線管1の管電圧と管電流を制御するX線制御部9と、被検体5を透過したX線を検出するX線検出器3とを有し、このX線検出器3で得られた被検体5の透過データから被検体5の透過像を作成するX線透視検査装置において、透過像を基に観察部分の減衰指数と該減衰指数に波及するノイズとの比が最も大きくなる管電圧と管電流とをコンピュータ8で計算し、X線制御部9に与える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

X線管と、このX線管の管電圧と管電流を制御するX線制御部と、被検体を透過したX線を検出するX線検出器とを有し、このX線検出器で得られた被検体の透過データから被検体の透過像を作成するX線透視検査装置において、 前記透過像を基に観察部分の減衰指数と該減衰指数に波及するノイズとの比が最も大きくなる管電圧と管電流を計算する最適X線条件計算手段を具備することを特徴とするX線透視検査装置。

IPC (3件)：

G01N23/04 ,  H05G1/46 ,  H05G1/64

FI (3件)：

G01N23/04 ,  H05G1/46 ,  H05G1/64 E

Fターム (29件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA08 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA02 ,  2G001KA01 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001LA11 ,  4C092AA01 ,  4C092AB04 ,  4C092AC08 ,  4C092CC03 ,  4C092CD02 ,  4C092CD03 ,  4C092CD07 ,  4C092CE01 ,  4C092CF02 ,  4C092CF07 ,  4C092CF24 ,  4C092CF25 ,  4C092CF26 ,  4C092DD03

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭59-214391
  
• X線撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-208334   出願人：株式会社島津製作所
• 特開昭63-092336
  
• 特開昭59-214391
  
• 特開昭63-092336