特許

J-GLOBAL ID：200903059589483499

シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム

発明者： 上村 亮平
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 高橋 詔男 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-127653
公開番号（公開出願番号）：特開2002-323993
出願日： 2001年04月25日
公開日（公表日）： 2002年11月08日
要約：

【要約】【課題】 内蔵された不揮発性メモリのバーインテストを簡易なテスターを用いて実施することが可能なシングルチップマイクロコンピュータを提供する。【解決手段】 書き換え可能な不揮発性メモリを内蔵したシングルチップマイクロコンピュータにおいて、外部とのデータの入出力を仲介するためのシリアルインタフェース14A,14Bと、このシリアルインタフェースを介して外部とデータの転送(通信)を行いながら不揮発性メモリ11A,11Bの一連の動作試験を制御するシーケンサ13A,13Bを備える。これにより、バーインテストにおいて、例えば一方のマイコン10Aの不揮発性メモリに書き込まれたロジックテスト用のプログラムなどのデータを他方のマイコン10Bに待避させて、各マイコンの不揮発性メモリを有効に動作させる。

請求項（抜粋）：

書き換え可能な不揮発性メモリを内蔵したシングルチップマイクロコンピュータにおいて、外部との間でデータの入出力を行うためのインタフェース手段と、所定の手順に従い、前記インタフェース手段を介して外部からデータを取り込んで該データを用いて前記不揮発性メモリの試験を行うと共に、前記不揮発性メモリに書き込まれたデータを前記インタフェース手段を介して外部に出力するための制御を行う制御手段と、を備えたことを特徴とするシングルチップマイクロコンピュータ。

IPC (9件)：

G06F 11/22 340 ,  G06F 11/22 310 ,  G01R 31/28 ,  G06F 12/16 330 ,  G06F 15/78 510 ,  G11C 16/02 ,  G11C 17/00 ,  G11C 29/00 673 ,  G11C 29/00 675

FI (10件)：

G06F 11/22 340 F ,  G06F 11/22 310 A ,  G06F 12/16 330 A ,  G06F 15/78 510 K ,  G11C 17/00 D ,  G11C 29/00 673 F ,  G11C 29/00 675 M ,  G11C 17/00 601 Z ,  G01R 31/28 B ,  G01R 31/28 D

Fターム (31件)：

2G132AA09 ,  2G132AB03 ,  2G132AC03 ,  2G132AG01 ,  2G132AH01 ,  2G132AL29 ,  5B003AA05 ,  5B003AB05 ,  5B003AD00 ,  5B003AE04 ,  5B018GA03 ,  5B018HA01 ,  5B018KA01 ,  5B018NA06 ,  5B018QA13 ,  5B025AD00 ,  5B025AD04 ,  5B025AD05 ,  5B025AD08 ,  5B025AD15 ,  5B025AE09 ,  5B048AA12 ,  5B048CC06 ,  5B048DD01 ,  5B062CC01 ,  5B062EE10 ,  5B062JJ05 ,  5L106AA10 ,  5L106AA16 ,  5L106DD35 ,  5L106EE02