特許
J-GLOBAL ID：200903059600570650
プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
土橋 博司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-227776
公開番号（公開出願番号）：特開平11-064426
出願日： 1997年08月25日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：
【要約】【課題】部品点数が少なく、部材コストが安く、軽量でかつ精度の高いプリント基板の検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】両端に針部を有し、かつ外周にフランジを有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当接する位置に導電性のパターンを有するインターフェイス部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接するものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを特徴とするプリント基板の検査装置。
請求項（抜粋）：
両端に針部を有し、かつ外周にフランジを有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当接する位置に導電性のパターンを有するインターフェイス部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接するものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを特徴とするプリント基板の検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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