特許

J-GLOBAL ID：200903059616190008

液晶パネルのセル厚測定方法及びセル厚測定装置

発明者： 末廣 桂一
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-302796
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124525
出願日： 1999年10月25日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 液晶パネルのセル厚分布を全体的に把握できるとともに、セル厚の基準値に対するずれ量(差異)を容易に把握できる測定方法及び測定装置を提供する。【解決手段】 CCDカメラ24は偏光板23から射出される透過光を受けて所定のカラー画像を取得し、このカラー画像データをコンピュータ装置26に送出する。コンピュータ装置26は、あらかじめROMやハードディスク等に格納されたデータ処理プログラムを実行することにより、CCDカメラ24から出力されたカラー画像データに演算処理を加えて後述するセル厚相関データに変換し、このセル厚相関データを用いて変換画像をモニタ27に出力する。

請求項（抜粋）：

液晶パネルの表裏両側にそれぞれ偏光子及び検光子を配置し、前記偏光子及び前記検光子の偏光透過軸を前記液晶パネルにおける液晶配向状態に応じた所定方位に設定した状態で、前記偏光子、前記液晶パネル及び前記検光子を順次通過した光を採りこみ、前記液晶パネルのパネル面に沿った色調データの分布を含むカラー画像を取得し、前記色調データを、前記液晶パネルにおけるセル厚を含む所定のセル厚範囲内においてセル厚に対する線形性を有するセル厚相関データに変換して、該セル厚相関データの前記パネル面に沿った分布を得ることを特徴とする液晶パネルのセル厚測定方法。

IPC (2件)：

G01B 11/06 ,  G02F 1/13 101

FI (2件)：

G01B 11/06 Z ,  G02F 1/13 101

Fターム (21件)：

2F065AA30 ,  2F065CC00 ,  2F065CC25 ,  2F065DD00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF49 ,  2F065FF61 ,  2F065GG24 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL33 ,  2F065LL34 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2H088FA11 ,  2H088FA25 ,  2H088FA30 ,  2H088JA13 ,  2H088MA20