特許
J-GLOBAL ID：200903059633998850
検査搬送機、検査確認方法および実装ライン
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
清水 義仁
, 清水 久義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-312892
公開番号（公開出願番号）：特開2007-123503
出願日： 2005年10月27日
公開日（公表日）： 2007年05月17日
要約：
【課題】基板状態の確認作業を効率良く行えて、検査機自体の状態を正確に把握できる検査搬送機を提供する。【解決手段】電子部品が搭載された基板を検査する検査機2と、検査機2によって検査された基板を搬送する搬送機3と、検査機2の状態に関する情報を表示する第1表示装置27と、搬送機3に設けられ、検査機2により不良と判断された不良基板に関する情報を表示し、かつ第1表示装置27に対し非同期の第2表示装置37と、第2表示装置37に表示される情報を参照しつつ、不良基板の状態を確認するための作業領域と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電子部品が搭載された基板を検査する検査機と、
前記検査機によって検査された基板を搬送する搬送機と、
前記検査機の状態に関する情報を表示する第1表示装置と、
前記搬送機に設けられ、前記検査機により不良と判断された不良基板に関する情報を表示し、かつ前記第1表示装置に対し非同期の第2表示装置と、
前記第2表示装置に表示される情報を参照しつつ、不良基板の状態を確認するための作業領域と、を備えたことを特徴とする検査搬送機。
IPC (3件)：
H05K 13/08
, H05K 13/04
, H05K 3/00
H05K13/08 U
, H05K13/04 B
, H05K3/00 V
5E313AA02
, 5E313AA11
, 5E313CC04
, 5E313EE03
, 5E313EE06
, 5E313FG01
, 5E313FG05
, 5E313FG06
, 5E313FG08
