特許
J-GLOBAL ID:200903059700833160

光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定装置、光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定方法、光ディスクの記録及び/又は再生装置、並びに、光ディスクの再生方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小池 晃 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-258802
公開番号(公開出願番号):特開平11-154337
出願日: 1998年09月11日
公開日(公表日): 1999年06月08日
要約:
【要約】【課題】 精度が高く安価な光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定装置等を提供する。【解決手段】 特性検査装置1では、光学ピックアップ2のフォトディテクタの出力を、信号A〜Fとして、直接サンプルホールド回路8a〜8fに供給する。サンプルホールド回路8a〜8f、マルチプレクサ9、第2のアナログ/デジタル変換回路10では、信号A〜Fを、50KHz以上のサンプリング周波数でデジタルデータに変換する。コンピュータ12では、演算処理部12dがRF信号のレベル測定プログラムP等が格納されるデータ格納部12bから、所定のプログラムを読み出す。演算処理部12dは、第2のメモリ11に格納されたデジタルデータに基づき、所定の測定項目の演算を行い、光学ピックアップ2の特性の測定を行う。
請求項(抜粋):
光学ピックアップが有する1又は複数の光電変換部の出力に基づき、光ディスクの再生駆動を制御するサーボコントロール手段と、上記光学ピックアップが有する1又は複数の光電変換部の出力をデジタルデータに変換するアナログ/デジタル変換手段と、上記アナログ/デジタル変換手段が変換したデジタルデータを記憶する記憶手段と、上記記憶手段が格納したデジタルデータに基づき、上記光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性値を演算する演算処理手段とを備える光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定装置。
IPC (2件):
G11B 7/09 ,  G01M 11/00
FI (2件):
G11B 7/09 A ,  G01M 11/00 Z
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平3-001332
  • フォーカス制御装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-286661   出願人:松下電器産業株式会社
  • 特開平3-001332

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