特許
J-GLOBAL ID：200903059739299772
光学式3次元位置計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西教 圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-207013
公開番号（公開出願番号）：特開平5-045117
出願日： 1991年08月19日
公開日（公表日）： 1993年02月23日
要約：
【要約】被計測物体の3次元位置を光学的に計測する方法に関し、その被計測物体の位置が予め定める位置からずれていても、その3次元位置を容易に計測することができるようにするために、被計測物体を複数軸の産業用ロボットの作業端に取付けられたテレビカメラで撮像し、その撮像した画像を処理して、被計測物体に形成されている長孔の2次元の位置および姿勢を測定し、こうして得られた2次元の位置および姿勢に基づいて、テレビカメラと一体的な光源からのスリット光が、前記長孔の重心を通りかつ長軸方向に位置して当たるように、テレビカメラを移動して位置決めし、この被計測物体に照射されたスリット光をテレビカメラで撮像し、その画像に基づいて被計測物体の3次元位置を測定する。したがって被計測物体に対するテレビカメラの位置決めをラフに設定しても、その物体の位置検出を高精度で達成することができる。
請求項（抜粋）：
被計測物体をテレビカメラで撮像し、その撮像した画像を処理して、被計測物体の2次元の物理量を測定し、こうして得られた2次元の物理量に基づいて、テレビカメラと一体的である光源からのスリット光が、被計測物体の特定の位置および方向に当たるように、テレビカメラを移動して位置決めし、被計測物体に照射されたスリット光をテレビカメラで撮像し、その画像に基づいて、被計測物体の3次元位置を測定することを特徴とする光学式3次元位置計測方法。
IPC (2件)：
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