特許
J-GLOBAL ID:200903059875942069
電子部品およびその製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
阿部 美次郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-318939
公開番号(公開出願番号):特開2001-135548
出願日: 1999年11月09日
公開日(公表日): 2001年05月18日
要約:
【要約】【課題】 接触不良等のトラブルのない、信頼性の高い電子部品およびその製造方法を提供する。【解決手段】 導体突起31は、絶縁層12を貫通し、一端が導体パターン21に接続され、他端が導体パターン22にくい込み、導体パターン22に立体的に接続されている。導体突起32は、絶縁層13を貫通し、一端が導体パターン22に接続され、他端が導体パターン23にくい込み、導体パターン23に立体的に接続されている。導体突起33は、絶縁層14を貫通し、一端が導体パターン23に接続され、他端が導体パターン24にくい込み、導体パターン24に立体的に接続されている。
請求項(抜粋):
少なくとも1つの絶縁層と、複数の導体パターンと、少なくとも1つの導体突起とを含む電子部品であって、前記導体パターンは、回路要素を構成するものであって、前記絶縁層の両面に設けられ、前記導体突起は、前記絶縁層を貫通し、一端が前記絶縁層の一面に設けられた前記導体パターンに接続され、他端が前記絶縁層の他面に設けられた前記導体パターンにくい込み、立体的に接続されている電子部品。
IPC (4件):
H01G 4/40
, H01F 17/00
, H05K 1/14
, H05K 3/36
FI (4件):
H01F 17/00 D
, H05K 1/14 A
, H05K 3/36 A
, H01G 4/40 321 A
Fターム (18件):
5E070AA01
, 5E070AB03
, 5E070CB03
, 5E070CB13
, 5E082BC38
, 5E082DD08
, 5E082EE04
, 5E082EE13
, 5E082EE14
, 5E082EE35
, 5E082MM22
, 5E082MM24
, 5E344BB06
, 5E344BB08
, 5E344BB10
, 5E344CC23
, 5E344DD07
, 5E344EE21
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