特許

J-GLOBAL ID：200903059911098334

タンデム式質量分光分析の方法とタンデム式質量分光分析計

発明者： ロバート・ハロルド・ベイトマン ,  ジョン・ブライアン・ホイエス
出願人/特許権者： マイクロマス・リミテッド
代理人 (1件)： 大橋 邦彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-253279
公開番号（公開出願番号）：特開平11-154486
出願日： 1998年08月24日
公開日（公表日）： 1999年06月08日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 タンデム式質量分析計を作動させる効率的な方法及び装置を提供する。【解決手段】 試料から生成される親イオンが質量フィルタ2を通過させられ、崩壊手段3内において娘イオンに崩壊させられて、該娘イオンが、飛行時間分析器16等の非連続出力質量分析器を通過させられる。可能性ある親の質量対電荷比の範囲は複数のより小さな範囲に分割されて、質量フィルタ2がそうしたより小さな範囲の各々内のイオンを順に通すように設定される。対象となる娘イオンを作り出すそうしたより小さな範囲の各々に対してフラグを設定し、質量フィルタ2が、フラグが立てられた範囲の内の前記質量対電荷比の各々を通すように設定されて、通された前記質量対電荷比の各々に対して作り出された前記崩壊イオンの前記質量対電荷比が、前記非連続出力分析器16が用いられて決定され得る。

請求項（抜粋）：

タンデム式質量分光分析の方法であって、a)1つ以上の親イオンを含む複数イオンから成るイオン母集団を生成すべく試料をイオン化する段階と、b)前記イオン母集団内に含まれる少なくとも幾つかのイオンを質量フィルタに通過させて、第1所定範囲内の質量対電荷比を有するイオンのみを選別する段階と、c)段階b)で選別されたイオンを崩壊手段に入ることを認めて、先に選別された任意の前記親イオンから娘イオンを作り出す段階と、d)非連続出力質量分析器を用いて、対象となる任意の娘イオンが前記崩壊手段によって作り出されたか否かを決定し、もし対象となる任意の前記娘イオンが検出されたならば前記第1所定範囲にフラグを立てる段階と、e)前記質量フィルタが、前記親イオンが持ち得ると想定される質量対電荷比の全てを前記崩壊手段へ伝達するように設定されるまで、異なる第1所定範囲を用いて段階b)-d)を繰返す段階と、f)段階d)でフラグが立てられた前記第1所定範囲の内の1つ内に含まれる前記質量対電荷比の1つ以上を含む第2所定範囲内の質量対電荷比を有するイオンを、前記崩壊手段へ伝達するように前記質量フィルタを設定する段階と、g)前記非連続出力質量分析器を用いて前記崩壊手段を離れるイオンの前記質量対電荷比を決定する段階と、h)前記質量フィルタが、段階d)でフラグが立てられた前記第1所定範囲の全てに含まれる前記質量対電荷比の全てを前記崩壊手段へ伝達するように設定されるまで、異なる第2所定範囲を用いて段階f)及びg)を繰返す段階と、の諸段階を含む方法。

IPC (3件)：

H01J 49/26 ,  H01J 49/40 ,  H01J 49/42

FI (3件)：

H01J 49/26 ,  H01J 49/40 ,  H01J 49/42