特許
J-GLOBAL ID：200903059962014011

ガス組成測定器

発明者：
播摩 信一

播摩 信一 について


出願人/特許権者：
株式会社タニタ

株式会社タニタ について


代理人 (2件)： 大林 章 ,  矢代 仁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-127963
公開番号（公開出願番号）：特開2008-281514
出願日： 2007年05月14日
公開日（公表日）： 2008年11月20日
要約：
【課題】手軽に使用可能であって、半導体ガスセンサの劣化による測定精度の低下を抑制することができるガス組成測定器を提供する。【解決手段】呼気中の対象ガスの濃度を推定して呼気の組成を測定する測定処理を繰り返し行う呼気組成測定器100を提供する。呼気組成測定器100は、呼気に曝露される位置に設けられ、対象ガスに感応して値を出力する半導体ガスセンサである測定用センサ106と、測定用センサ106を校正するための第1〜第3の校正係数を記憶する記憶部110と、時間を計るタイマ109と、CPU105とを有する。CPU105は、二回目以降の測定処理の各々において、測定用センサ106の出力値と、第1〜第3の校正係数と、前回以前の測定処理に係る測定期間の長さと、今回の測定処理の開始以前に終了している非測定期間の長さとを用いた演算により、呼気中の対象ガスの濃度を推定する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
被測定ガス中の対象ガスの濃度を推定して被測定ガスの組成を測定する測定処理を繰り返し行うガス組成測定器において、 被測定ガスに曝露される位置に設けられ、特定のガスである対象ガスに感応して値を出力する第1の半導体ガスセンサと、 前記第1の半導体ガスセンサを校正するための係数であって、前記第1の半導体ガスセンサの出力値とガスの濃度との対応関係を示す検量線の傾きに応じた第1の校正係数を記憶し、前記第1の半導体ガスセンサを校正するための係数であって、対象ガスを含む被測定ガスへの曝露による前記第1の半導体ガスセンサの劣化の速度に応じた第2の校正係数を予め記憶する記憶部と、 時間を計る計時部と、 基準時点から現時点までの一連の期間を測定可能期間とし、前記測定可能期間のうち、測定処理の開始から終了までの一連の期間を測定期間とし、他の一連の期間を非測定期間としたとき、二回目以降の測定処理の各々において、前記第1の半導体ガスセンサの出力値と、前記記憶部に記憶されている前記第1の校正係数および前記第2の校正係数と、前記第1の半導体ガスセンサを校正するための係数であって、環境ガスへの曝露による前記第1の半導体ガスセンサの劣化の速度に応じた第3の校正係数と、前回以前の測定処理に係る測定期間の長さと、今回の測定処理の開始以前に終了している非測定期間の長さとを用いた第1の演算によって、被測定ガス中の対象ガスの濃度を推定する濃度推定部と、 を有することを特徴とするガス組成測定器。
IPC (2件)：
G01N 27/12 ,  G01N 27/04
FI (2件)：
G01N27/12 A ,  G01N27/04 D
Fターム (36件)：
2G046AA01 ,  2G046AA18 ,  2G046AA24 ,  2G046BF05 ,  2G046BG02 ,  2G046BG04 ,  2G046BH02 ,  2G046CA02 ,  2G046DB05 ,  2G046DC14 ,  2G046DC16 ,  2G046DC17 ,  2G046DC18 ,  2G046EB01 ,  2G046FB02 ,  2G046FE39 ,  2G060AA01 ,  2G060AB26 ,  2G060AE19 ,  2G060AF07 ,  2G060BA01 ,  2G060BB02 ,  2G060BB09 ,  2G060BC02 ,  2G060BD10 ,  2G060HA09 ,  2G060HB01 ,  2G060HB06 ,  2G060HC08 ,  2G060HC13 ,  2G060HC19 ,  2G060HC21 ,  2G060HC22 ,  2G060HD01 ,  2G060HD03 ,  2G060KA01
引用特許：
出願人引用 (5件)
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