特許
J-GLOBAL ID：200903059970300031
測定データ処理システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-332184
公開番号（公開出願番号）：特開2006-145250
出願日： 2004年11月16日
公開日（公表日）： 2006年06月08日
要約：
【課題】サンプリングした測定データを分解能と応答性とをバランスさせて表示用のデータ形式に加工し、適正に表示させる。 【解決手段】処理装置10の制御部13で、測定系5から入力される測定データの分解能や表示装置20から入力される表示画面の表示形式及び解像度情報に基づいてデータ表示に必要十分な分解能を算出し、この分解能に見合ったサンプリング周期や測定データを表示用のデータ形式に加工する際に採用する過去のデータの最新のデータに対するタイムラグを表すタイムラグ調整値を設定する。データ取り込み部11では、制御部13で設定したサンプリング周期で測定データを取り込み、データ加工部12で最新のデータとタイムラグ調整値に基づく過去のデータとを用いて分解能と応答性とをバランスさせた表示用のデータ形式に加工し、表示装置20に表示情報として出力する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定データを一定時間毎にサンプリングし、サンプリングした測定データを表示用のデータ形式に加工する測定データ処理システムであって、
上記測定データの分解能と表示に要求される分解能とに基づいて、上記測定データのサンプリング周期と、上記測定データを表示用のデータ形式に加工する際に採用する過去のデータの最新のデータに対するタイムラグを表すタイムラグ調整値との少なくとも一方を可変設定する制御手段と、
上記制御手段で設定したサンプリング周期で上記測定データを取り込むデータ取り込み手段と、
上記データ取り込み手段で取り込んだ測定データから最新のデータと上記タイムラグ調整値に基づく過去のデータとを用いて表示用のデータ形式に加工するデータ加工手段とを備えたことを特徴とする測定データ処理システム。
IPC (3件)：
G01D 7/00
, B60R 16/02
, G01P 15/00
G01D7/00 Z
, B60R16/02 640K
, G01P15/00 A
