特許
J-GLOBAL ID：200903059971390107
円筒型電極体の異物混入検査方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人コスモス特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-203833
公開番号（公開出願番号）：特開2009-043418
出願日： 2007年08月06日
公開日（公表日）： 2009年02月26日
要約：
【課題】将来的に内部短絡を引き起こす可能性がある小さな金属異物であっても確実に検出することができる円筒型電極体の異物混入検査方法および装置を提供すること。【解決手段】異物混入検査装置10において、円筒型電極体20の長手方向に線接触して円筒型電極体20を加圧する加圧板12と、円筒型電極体20に検査電圧を印加する電圧印加部15と、加圧板12と円筒型電極体20との接触面を円筒型電極体20の外周において少なくとも半周以上にわたって移動させる移動機構13と、円筒型電極体20の抵抗を計測する抵抗計測部16と、抵抗計測部16で計測された抵抗値に基づき円筒型電極体への20異物混入の有無を判断する異物混入判断部17とを設ける。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電極層とセパレータとが捲回されて円筒形状をなす円筒型電極体への異物混入を検査する円筒型電極体の異物混入検査方法において、
前記円筒型電極体の長手方向に加圧体を線接触させた状態で前記円筒型電極体を加圧した状態で、前記加圧体と前記円筒型電極体との接触面を前記円筒型電極体の外周において少なくとも半周以上にわたって移動させて、前記加圧体により前記円筒型電極体の全周を加圧する加圧工程と、
前記加圧工程により前記円筒型電極体が加圧されている状態で、前記円筒型電極体の正負極間に検査電圧を印加する電圧印加工程と、
前記電圧印加工程により前記円筒型電極体に検査電圧が印加されている状態で、前記円筒型電極体の正負極間における抵抗を計測する抵抗計測工程と、
前記抵抗計測工程で計測された抵抗値に基づき前記円筒型電極体への異物混入を検出する異物混入検出工程とを含むことを特徴とする円筒型電極体の異物混入検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
5H028AA05
, 5H028BB04
, 5H028BB10
, 5H028BB11
, 5H028CC12
